Andreas Haungs(KIT), Christopher van Eldik(ECAP), Daniel Kuempel(RWTH Aachen), Johannes Knapp(DESY), Markus Roth(KIT, Germany), Monika Fink Contact, Ralph Engel(KIT), Rolf Bühler(DESY), Stefan Funk(ECAP), Stefan Klepser(DESY), Stefan Ohm(DESY, Zeuthen), Uli Katz